探針Probe測試,探針測試Probe,探針測試,宜特檢測
Probe測試
在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內部線(xiàn)路，使其可以外接各類(lèi)設備，以便量測或輸入訊號。宜特科技目前擁有的探針與應用相關(guān)訊息如下:
探針?lè )譃橛册?、軟針及Active Probe。硬針之針尖主要規格為1 μm及5 μm；軟針之針尖為 < 1 μm，主要應用在高頻電路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。
當分析樣品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等儀器卻無(wú)無(wú)適當治具或socket可用時(shí)，可由點(diǎn)針?lè )绞教峁┯嵦栞斎胼敵觥?/p>
Wafer可搭配Probe card做各項測試。
實(shí)驗室另架設有 Laser system ,可做Laser cut。
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng )于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無(wú)線(xiàn)認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現已有7座實(shí)驗室12個(gè)服務(wù)據點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實(shí)驗室。
**服務(wù)電話(huà)：8009880501
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