IC點(diǎn)針試驗,點(diǎn)針墊偵錯檢測,上海點(diǎn)針墊偵錯檢測試,宜特檢測
點(diǎn)針墊偵錯 (CAD Probe Pad)
FIB可在IC上做訊號擷取點(diǎn)。利用FIB將要量取之訊號點(diǎn)拉到IC表面，并利用機械式探針(Mechanical prober) 擷取IC內部訊號。
利用Mechanical prober量測訊號時(shí)，將IC放到測試板提供測試所需之電壓環(huán)境。一般IC內部訊號驅動(dòng)能力較弱，可能推不動(dòng)導線(xiàn)加上示波器的負載，造成方波變成三角波、DC準位降低等問(wèn)題，可利用Active Probe來(lái)改善此現象。
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng )于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無(wú)線(xiàn)認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現已有7座實(shí)驗室12個(gè)服務(wù)據點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實(shí)驗室。
**服務(wù)熱線(xiàn)：8009880501
點(diǎn)針墊偵錯 (CAD Probe Pad)
