連接器壽命測試,壽命試驗,上海連接器壽命實(shí)驗測試,宜特檢測
連結器壽命測試
連接器壽命試驗/ 插拔試驗 (Connector Life Test/ Durability)
模擬連接器多次插拔動(dòng)作，了解連接器內部機構件及彈片表面，是否在經(jīng)過(guò)測試后有異常磨耗損壞現象，導致功能異常失效。
規格
速率: Max 5 cycle/second
參考規范
EIA-364-09C
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng )于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無(wú)線(xiàn)認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現已有7座實(shí)驗室12個(gè)服務(wù)據點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實(shí)驗室。
連接器壽命測試
