靜電測試公司,ESD靜電測試,上海電子芯片靜電測試,宜特檢測
系統/模塊類(lèi)靜電放電試驗
靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多數的電子組件或電子系統受到過(guò)度電性應力(Electrical Overstress , EOS)破壞的主要因素。這種破壞會(huì )導致半導體組件以及計算機系統等，形成一種長(cháng)久性的毀壞，因而影響集成電路(Integrated Circuits, ICs)的電路功能，而使得電子產(chǎn)品工作不正常。而靜電放電破壞的產(chǎn)生，多是由于人為因素所形成，但又很難避免。
電子組件或系統在制造、生產(chǎn)、組裝、測 試、存放、搬運等的過(guò)程中，靜電會(huì )累積在人體、儀器、儲放設備等之中，甚至在電子組件本身也會(huì )累積靜電，而人們在不知情的情況下，使這些物體相互接觸，因而形了一放電路徑，使得電子組件或系統遭到靜電放電的肆虐。所以產(chǎn)品需要有靜電防護測試，因此依據IEC 61000-4-2所規范中有分為Contact Discharge、Air Discharge、HCP Contact Discharge、VCP Contact Discharge四種測試項目。
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng )于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無(wú)線(xiàn)認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現已有7座實(shí)驗室12個(gè)服務(wù)據點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實(shí)驗室。
**服務(wù)熱線(xiàn)：8009880501
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